【活動安排】

時間：2024年6月21日（周五）上午9：00-11：30

地點：知行樓B114實驗室

【內(nèi)容】

1.樣品制備及上樣說明

2.儀器軟件操作演示

3.實際樣品TEM下常規(guī)測試過程講解

【設(shè)備介紹】

可實現(xiàn)納米材料透射像（明場、暗場和高分辨像）觀察；選區(qū)電子衍射結(jié)構(gòu)分析和納米區(qū)域的成份分析；固體材料和納米材料的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)觀察與分析；配合能譜儀可以對樣品元素進行定性分析。

具體配置如下：

品牌型號：日本電子JEM-2100PLUS

電子槍：LaB6（六硼化鑭）

點分辨率：0.19 nm

線分辨率：0.14 nm

加速電壓：200 kv

真空度：優(yōu)于2×10^-5 Pa

放大倍數(shù)（高倍）： 2000x ~ 1.5 Mx

放大倍率誤差：小于±10%

Gatan CMOS相機

牛津Xplore系列EDS探測器

【溫馨提示】

請有測試需求的課題組派一名學生代表參加。

當天有測樣需要的，可提前聯(lián)系平臺老師溝通后制好樣品前來。

請掃描二維碼，填寫信息報名，報名截至6月20日16：30。

聯(lián)系方式：

電鏡影像專業(yè)分析平臺嚴老師，閆老師0510-87667031