性能指標(biāo)

光源：銅靶，微焦斑點(diǎn)光源，50W；輔助光源：銅靶，微焦斑點(diǎn)光源，30W；探測(cè)器：二維探測(cè)器，1M；測(cè)試角度及范圍：最小散射角度：2θ-min≤0.03°，q_min≤0.02nm^-1；最大散射角度：2θ-max≥70°，q_min≥45 nm^-1；二維SAXS系統(tǒng)可實(shí)際測(cè)試的樣品納米粒徑尺寸＞250nm；輔助功能：掠入射測(cè)試，小角流變同步測(cè)試；軟件處理：可對(duì)一維散射曲線進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理得到PDDF曲線等。

主要應(yīng)用

主要用于測(cè)定食品膠體、蛋白質(zhì)生物材料等的膠束尺寸、膠束形狀、相行為、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、聚集狀態(tài)和分子量取向度等。

樣品要求

粉末樣品：應(yīng)研磨成無(wú)顆粒感，測(cè)試時(shí)，需用載體（如膠帶）支撐；

塊狀樣品：如太厚，光束無(wú)法透過(guò)，需盡量減薄；

液體樣品：使用毛細(xì)管裝載樣品測(cè)試，溶質(zhì)在溶劑中完全溶解，溶質(zhì)與溶劑的電子密度差應(yīng)盡可能大。

儀器說(shuō)明

SAXS是一種用于測(cè)定納米尺度范圍的固體和流體材料結(jié)構(gòu)的技術(shù)。它探測(cè)的是長(zhǎng)度尺度在典型的1-100nm范圍內(nèi)的電子密度的不均勻性，從而給XRD數(shù)據(jù)提供補(bǔ)充的結(jié)構(gòu)信息。可應(yīng)用于結(jié)晶和非晶之類的材料。還應(yīng)用于膠體、膜、微乳液、聚合物等的結(jié)構(gòu)分析。在所有顆粒基本上具有相同尺寸的情況下，有可能測(cè)定它們的形狀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。