性能指標(biāo)

1.分析室真空腔：由厚度5mm純?chǔ)探饘僦圃欤罴颜婵斩取?.0×10^-10mbar。2.分析室真空系統(tǒng)組成：配置機(jī)械泵，分子渦輪泵及鈦升華泵各一套。3.進(jìn)樣室真空度：最佳真空度≤7.0×10^-9mbar。4.進(jìn)樣室真空系統(tǒng)組成：配置渦輪分子泵和機(jī)械泵各一套。5.單色化Al X射線源。6. X射線源-源束斑尺寸范圍滿足200～900μm，可選規(guī)格為200、250、300、400、500、650和900μm，總計(jì)7檔。7.最佳能量分辨率和靈敏度：對(duì)Ag3d5/2峰，半高寬≤0.43 eV時(shí)，計(jì)數(shù)率≥90 kcps。8.能量掃描范圍：滿足0～5000 eV。

主要應(yīng)用

可以用于：1）各種材料的表面化學(xué)價(jià)態(tài)分析及深度分布測(cè)試；2）有機(jī)物、儲(chǔ)氫材料的氫元素定量測(cè)試；3）研究半導(dǎo)體材料的帶隙和功函數(shù)等。

樣品要求

1.粉末樣品提供20-30mg，量少請(qǐng)用鋁箔紙包好再裝到管子里寄送；塊狀/薄膜：長(zhǎng)寬厚不超5*5*3mm。

2.H、He元素不可以測(cè)試，放射性元素請(qǐng)?zhí)崆皽贤ā?.樣品無法回收。

儀器說明

主要用于粉末、薄膜、高分子等材料的表面幾個(gè)原子層（1~10納米厚的表面）的化學(xué)組成、價(jià)態(tài)，深度剖析及成像、功函數(shù)特性的分析與表征。