場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SU8600))-東氿校區(qū)
發(fā)布日期:2024-03-04來源:分析測試中心
文:賀瓶 審核:張爽
場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SU8600) |
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性能指標 |
加速電壓:0.5~30 kV;著陸電壓:0.01 ~ 20 kV;電子槍:冷場發(fā)射電子源,支持柔性閃爍功能,包含陽極烘烤系統(tǒng);二次電子像信息分辨率:0.6 nm@15 kV,0.7 nm@1 kV;半導體式背散射電子探測器(PD-BSED);馬達驅(qū)動軸:5軸馬達驅(qū)動(X/Y/R/Z/T);配備EDAX能譜儀。 |
主要應(yīng)用 |
可提供材料的形貌、基本結(jié)構(gòu)與成份信息;配合能譜儀可以對樣品元素做點、線、面分布分析,以及對材料微區(qū)化學成分進行定性和半定量分析。 |
樣品要求 |
掃描電鏡不做磁性樣品;對于粉末樣品,要求樣品均勻分散在硅片或鋁箔紙上,也可直接涂抹在導電膠上。 |
儀器說明 |
該儀器廣泛應(yīng)用于化學、材料、食品、生物、物理、醫(yī)學等學科的分析研究。 |